便攜式全內(nèi)反射熒光X射線分析儀“OURSTEX200TX"的原理及運用介紹

測量原理

X 射線熒光光譜法 全內(nèi)反射 X 射線熒光光譜法

全內(nèi)反射X射線熒光光譜法與普通X射線熒光光譜法的不同之處在于，光線以低于全反射臨界角的低角度入射到樣品表面，因此不會穿透樣品臺基板，可以由于不產(chǎn)生散射 X 射線，因此可以進行超痕量分析。

　　測量示例1（溶液分析）

含有 Sc、Cr、Co、As 和 Sr 各 1 ng 的熒光 X 射線光譜

　　測量示例2（毛發(fā)分析）

30多歲男性頭發(fā)熒光X射線光譜

【特征】　●媲美ICP/原子吸收光譜儀的高靈敏度　●主機總重僅8kg　●可進行ppm至ppb級別的分析　●無需液氮或冷卻水　

[應(yīng)用]　●用于測試井水和河流　●用于分析土壤和玩具中的瀝濾水　●用于食品、制藥、法醫(yī)學領(lǐng)域的現(xiàn)場分析

應(yīng)用實例

• 毛發(fā)成分分析

• 藥品分析（感冒藥）

• 雨水分析

• 混合標準溶液的分析

• 指紋成分分析

• 空氣顆粒物分析

OURSTEX200TX規(guī)格

*引進OURSTEX200TX時，需提前向勞動基準監(jiān)督署通報。